PCT高压加速寿命试验箱|密高温高压老化测试箱

PCT加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。 

特点优势： 

1.**优化设计,美观大方，做工精细。 

2.采用大容量水箱,试验时间长,不中断。 

3.采用日本“SHIMAX”智能温控器，具有精度高，控制稳定特点（依客户需要也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏，USB曲线数据下载功能，和通讯功能）。 

4. PCT加速老化试验箱的水路配电盘分离，确保设备稳定可靠安全。 

5.采用高效真空泵，使箱内达到**纯净饱和蒸汽状态。  
6.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。 

 
安全保护： 

1.误操作安全装置：PCT加速老化试验箱锅门若未关紧则机器无法启动。 

2.**压安全保护：当锅内压力**过较*作值自动排气泄压。 

3.**温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源。      

4.防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤。 

5.机台异常关闭全机停电处理及故障提示。 

6. PCT加速老化试验箱手动安全保护排压伐。 


规范要求 

1、PCT加速老化试验机内胆采用圆弧设计,复合**安全容器标准,可以防止试验 

结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸 

汽直接冲击影响试验结果。 

2.配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸 

免费量身定制**产品架。